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日置HIOKI FA1817全新發(fā)售飛針測試機

日期:2025-01-10 00:31
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摘要:日置HIOKI FA1817全新發(fā)售飛針測試機,由于電子設(shè)備的小型化,光板也在向小型化,高密度化和多層化的方向發(fā)展,同時潛在缺陷也逐漸增加。 為了響應(yīng)用戶提高基板品質(zhì)的需求,我們開發(fā)了飛針測試機FA1817。它可以檢測出開路,微開,微短和電弧放電等各種導(dǎo)致潛在不佳的原因

日置HIOKI FA1817全新發(fā)售飛針測試機

日置HIOKI FA1817全新發(fā)售飛針測試機毫無遺漏地檢測高密度印刷線路板的潛在故障

日置HIOKI FA1817全新發(fā)售飛針測試機這是一款檢測基板* 1印刷線路的自動測試設(shè)備。
飛針測試機FA1817是一種適用于高密度印刷線路板檢測的光板測試設(shè)備。 通過從低電阻測量到高絕緣電阻測量的各種測試對應(yīng)方案,我們可以檢測出困擾用戶的光板的潛在不佳問題。
此外,通過新開發(fā)的軟件“Process Analyzer”(標(biāo)配),可以輕松地從檢測結(jié)果創(chuàng)建統(tǒng)計數(shù)據(jù)實現(xiàn)不佳的分析。 FA1817不僅可以進行光板良否判定,也可以幫助改善工藝流程。
* 1沒有電子元件的印刷線路板(PWB:Printed Wiring Board)

日置HIOKI FA1817全新發(fā)售飛針測試機開發(fā)背景
工業(yè)設(shè)備,車載設(shè)備等組裝了貼裝電子元件的印刷電路板(PCB:Printed Circuit Board),日置HIOKI其在機械操作和設(shè)備控制中起著非常重要的作用。因此對光板提出了需要具有高質(zhì)量和高可靠性的要求。
近年來,由于電子設(shè)備的小型化,光板也在向小型化,高密度化和多層化的方向發(fā)展,同時潛在缺陷也逐漸增加。 為了響應(yīng)用戶提高基板品質(zhì)的需求,我們開發(fā)了飛針測試機FA1817。它可以檢測出開路,微開,微短和電弧放電等各種導(dǎo)致潛在不佳的原因。

日置HIOKI主要客戶
·印刷線路板制造商

日置HIOKI FA1817全新發(fā)售飛針測試機的特點
1.支持從低電阻測量到高絕緣電阻測量的各種檢測
利用我們迄今為止具備的微電阻計和絕緣電阻計的高技術(shù)能力,實現(xiàn)了微電阻以及100GΩ/ 250V的高絕緣電阻測量。 (使用專用探針和測量板卡) 通過低電阻測量測量微阻值,檢出微開不佳缺陷。
在高絕緣電阻測量中,檢出因焊盤形狀異?;蚝副P間存在的異物、間隙等影響而引起的絕緣異常和電弧放電現(xiàn)象。

2.實現(xiàn)針痕深度為1/2
在光板測試中,由于通過探針接觸進行檢查,因此會在光板上留下針痕。 在高密度化的基板上,即使是一點點痕跡也會產(chǎn)生很大的影響。使用以前的探針,即使產(chǎn)生的針痕已經(jīng)很小了。但為了進一步縮小寬度并減輕深度,在FA1817上也可使用利用HIOKI獨有技術(shù)開發(fā)的專用高精度探針CP 1072。 針痕的深度變?yōu)橐酝囊话?,對基板的傷害實現(xiàn)*小化。

3.探針移動的優(yōu)化可將檢測時間縮短20%
通過使用正面2手臂和背面2手臂進行有高效率測試,檢查時間*大可縮短多達20%。

4.使用新開發(fā)的“流程分析軟件”進行故障分析(標(biāo)配)
可以一次性讀取保存的檢測結(jié)果數(shù)據(jù),并輕松創(chuàng)建統(tǒng)計數(shù)據(jù)。每個測試步的結(jié)果可以以數(shù)值變化,直方圖,分布圖等形式“可視化”,以此進行不佳分析。 通過將分析的不佳內(nèi)容反饋到設(shè)計過程和制造過程,有助于提升高品質(zhì)的印刷線路板的制造。