HAL系列多功能綜合電器安規(guī)測試儀

耐壓測試VS擊穿測試，它們都有什么特點(diǎn)呢？
高壓(High-Potential)測試是一種非常通用的測試手段，可以用于各種不同的應(yīng)用場景。從研究、開發(fā)和型式試驗(yàn)，到下線**結(jié)構(gòu)測試，甚至包括維修后的檢測。

主要介紹兩種*常見的Hipot測試類型的區(qū)別，分別是耐壓測試和擊穿測試。
原理上，這兩種測試施加于DUT(被測物)的作用幾乎是一樣的，然而測試的結(jié)果往往不同。
Hipot測試通常包含2個(gè)測試端口，一個(gè)電壓源輸出端和一個(gè)回流端，測試回路中有泄露電流流過，被測試儀器測量出來。

HAL系列多功能綜合電器安規(guī)測試儀耐壓測試
耐壓測試是*常見的hipot測試類型。它包括施加一個(gè)預(yù)設(shè)好的電壓，通常是1000V或者更高。
測試(輸出)電壓作用于被測物的時(shí)間稱為持續(xù)時(shí)間(Hold time)，時(shí)間長短視具體應(yīng)用而定，從型式試驗(yàn)的幾分鐘到產(chǎn)線(常規(guī))測試的幾秒鐘。
通常，測試結(jié)果是通過還是失敗，取決于測量到的泄露電流的大小。如果泄露電流過大(超過設(shè)定好的觸發(fā)電流)，則測試失敗并中止。

泄露電流的幅值通常在mA量級，測試開始前一般會設(shè)定泄露電流的閾值，來判定測試通過與否。同樣的，泄露電流的上限值設(shè)定為多少，取決于不同的應(yīng)用。對型式試驗(yàn)而言，泄露電流上限值多在100mA以內(nèi)，測試是在更可控的實(shí)驗(yàn)室環(huán)境進(jìn)行的。當(dāng)在產(chǎn)線進(jìn)行測試時(shí)，限值通常低得多以確保測試人員的**，對于某些被測物，5mA以內(nèi)是可以接受的。

這類測試通常不具有破壞性，除非被測物原本已經(jīng)有絕緣**處，所以它是生產(chǎn)環(huán)境中常用的測試類型。然而，作為型式試驗(yàn)的一部分，更長的測試時(shí)間可能弱化絕緣材料的完整性。因此，進(jìn)行過型式試驗(yàn)的的產(chǎn)品通常被認(rèn)為不適合出售。

HAL系列多功能綜合電器安規(guī)測試儀擊穿測試
擊穿測試也是按上述的方法進(jìn)行的，然而，在這種特定測試中，是不設(shè)定電壓上限的，并且通常沒有持續(xù)時(shí)間。
擊穿測試中，電壓逐漸升高，直到被測物的絕緣性不再能承受這么高的電壓并被擊穿。這個(gè)電壓值就是絕緣體變成導(dǎo)電體的一個(gè)臨界電壓。

這個(gè)實(shí)例中的核心參數(shù)是擊穿出現(xiàn)時(shí)被記錄下來的電壓值。
如上所述，這類測試是屬于破壞性試驗(yàn)，目的是迫使DUT達(dá)到擊穿點(diǎn)。因此，此類測試只在研發(fā)環(huán)境中進(jìn)行，不適用于常規(guī)測試，它會使被測物出于不**狀態(tài)。

結(jié)論
可以看出，這兩種測試方法在確定產(chǎn)品整體**性方面都占有一席之地，然而需要有正確的時(shí)間和地點(diǎn)來進(jìn)行這些測試?？紤]到這一點(diǎn)，很容易就明白為什么擊穿測試只適用于研發(fā)場景，而對于被測物在測試完依然按預(yù)期使用的情況，耐壓測試用于證明產(chǎn)品的**性更為合適。

HAL系列多功能綜合電器安規(guī)測試儀

HAL系列是德國GMC-Instruments集團(tuán)子公司英國SEAWARD公司研發(fā)和制造的一款綜合電器安規(guī)測試儀。因其功能強(qiáng)大、性能可靠和操作便捷等優(yōu)勢，在電器行業(yè)有非常廣泛的應(yīng)用，尤其適用于需要批量測試的場合。

HAL系列有這五種型號：HAL104/LED/103/102/101。多種測試功能合而為一。
保護(hù)導(dǎo)體測試：測試電流*大可至40A
絕緣電阻測試：測試電壓*大可調(diào)到6kV DC，電阻測試范圍到500MΩ
高壓測試：測試電壓*大可調(diào)到5kV AC，6kV DC，并可選擇ARC弧檢測
功耗測試：輸出功耗測試，低功耗測試，功率因數(shù)測量
泄露測試：泄露電流、接觸電流測試
小巧便攜，200W x 300H x 370D mm，15kg
用戶可根據(jù)自己的產(chǎn)品測試要求，選擇合適的型號。