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覆層測厚儀和無損檢測儀的原理

日期:2025-01-07 10:34
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摘要:
無損檢測技術(shù)是一個**的理論,和高度重視的實踐非常有前途的學(xué)科。它涉及材料的物理性質(zhì)、產(chǎn)品設(shè)計、制造過程中,斷裂力學(xué)和有限元計算,和許多其他方面。
在化工、電子、電力、金屬等,為了實現(xiàn)各種材料的保護或裝飾效果,通常覆蓋著噴,有色金屬和磷化、陽極氧化處理方法,通過這種方式,有涂料、涂料、涂料、貼一層或化學(xué)等概念生成膜,我們稱之為“覆蓋”。
涂層厚度測量已成為金屬加工行業(yè)用戶必要的成品質(zhì)量檢驗*重要的工序。基本手段是產(chǎn)品符合質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)。
目前,國內(nèi)外已廣泛按照統(tǒng)一的國際標(biāo)準(zhǔn)對涂層厚度的確定,包層,無損檢測方法和儀器的選擇以及循序漸進的研究材料物理性能更重要。
包層無損檢測方法,主要包括:楔切法、光截法、電解法、厚度差測量法、稱重法、X射線瑩光法、β射線反射法、電容法、磁性測量法及渦流測量法等
除了五種大多數(shù)這些方法后會損害產(chǎn)品或產(chǎn)品表面,損傷檢測,測量和繁瑣,緩慢,更適合抽樣檢驗。x射線無損測量和β射線反射法不能接觸,但復(fù)雜的,昂貴的,小的測量范圍。由于放射性源,因此,用戶必須遵守輻射防護規(guī)范,在每一層更常用的金屬鍍層厚度測量。電容方法通常只在非常薄的厚度的絕緣導(dǎo)電涂層應(yīng)用程序的測試。
磁測量方法和渦流測量方法,隨著技術(shù)的日益進步,特別是近年來在微處理器技術(shù)的引入,測厚儀微,聰明、多功能、高精度、可行的方式向前邁進的重要一步。測量的分辨率已達0.1μm,精度可以達到1%,適用范圍寬,范圍廣泛,操作簡單,價格低廉。是應(yīng)用*廣泛的工業(yè)和科研儀器。

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